電磁兼容測(cè)試?yán)鳎阂晃膸懔私釺EM小室

2025-04-14 10:53:06

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2 GHz的橫電磁波(TEM)小室,能夠產(chǎn)生均勻橫電磁場(chǎng),用于測(cè)試小型集成電路,如芯片、無(wú)線通信模塊等。
測(cè)試輻射發(fā)射時(shí),集成電路在小室中發(fā)射的輻射場(chǎng)可以通過(guò)端口使用電磁波接收器進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)試抗擾度時(shí),通過(guò)小室的輸入端口施加的外部測(cè)試信號(hào)在小室內(nèi)導(dǎo)體上方產(chǎn)生TEM測(cè)試場(chǎng)。
IEC 61967-2 集成電路電磁發(fā)射測(cè)量 150kHz~1GHz 第2部分:輻射發(fā)射測(cè)量 TEM小室法;
SAE J1752/3 ?集成電路 TEM/寬帶TEM(GTEM)小室法的輻射發(fā)射測(cè)量;TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、寬帶 TEM 小室(150 kHz 至18 GHz);
IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測(cè)量 第2部分:輻射抗擾度測(cè)量 TEM小室和GTEM小室法;